XFEL内壳层激发下GaAs皮秒动力学测量

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   Physical Review B（新刊目录）

   X射线内壳层激发触发的GaAs光学与电子性质皮秒动力学

   研究人员利用X射线自由电子激光（XFEL）激发GaAs的K壳层电子，飞秒时间分辨吸收谱显示辐照后1.4 ps内带隙下方约50 meV处吸收增强，提示与芯空穴相关的局域态形成。该瞬态特征随后在几皮秒尺度通过多体过程弛豫，并伴随价带与导带内热载流子再分布引起的Pauli阻塞。与近红外激光激发相比，X射线激发的特征是带隙下方瞬态吸收态的形成以及导带底载流子积累的减少。

当前热度 5·可比范围峰值 5（11月11日 16:00）·近 24 小时可比范围变化 –

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