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超导腔诱导光子损耗探测比特噪声
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AI 综述
2026-11-13，Physical Review Letters 新刊目录刊出 Weizmann Institute of Science 团队成果：通过探测耦合高 Q 超导腔中的诱导光子损耗来测量超导比特频率噪声。方法上，利用重复的 mid-circuit 比特测量与后选择，将该诱导损耗与腔本征衰减分离开来。目前仅见此一篇报道，尚无更早版本可作对照。
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最新进展11月13日 18:00
PRL 新刊目录刊出 Weizmann 团队用超导腔诱导光子损耗测比特频率噪声的成果。报道时间线
沿着报道，了解事件的不同侧面。
11月13日
- Physical Review Letters（新刊目录）超导腔诱导光子损耗实现超导量子比特噪声探测
Weizmann Institute of Science 团队通过探测耦合高 Q 超导腔中的诱导光子损耗来测量超导比特频率噪声，用重复的 mid-circuit 比特测量与后选择将该损耗与腔本征衰减分离。
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还没有足够的连续观测数据，暂不绘制趋势。