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BNL 20/30微米LGAD探测器表征与辐照测试
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AI 综述
BNL制备的20 µm和30 µm厚LGAD探测器完成了表征与质子辐照测试，用于评估EIC子探测器系统的运行寿命。电学测量显示增益层成型良好且稳定、漏电流持续偏低；瞬态电流技术（TCT）用于评估增益，快激光定时研究给出几十皮秒量级的时间分辨率。
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最新进展11月11日 13:00
BNL 20/30 µm LGAD完成表征与质子辐照测试，时间分辨率达几十皮秒量级。报道时间线
沿着报道，了解事件的不同侧面。
11月11日
- arXiv physics.ins-det（探测器）BNL 20 µm与30 µm厚LGAD为EIC完成表征与质子辐照测试
BNL制备的20 µm和30 µm厚LGAD完成了表征与辐照测试，用于评估EIC子探测器系统的运行寿命。电学测量显示增益层成型良好且稳定、漏电流持续偏低，瞬态电流技术（TCT）用于评估增益，快激光定时研究给出几十皮秒量级的时间分辨率。
本事件热度走势
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