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nEXO CRYO ASIC在液氙中通过低温与噪声测试
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AI 综述
nEXO 合作组报告了用于液氙 TPC 电荷读出的 CRYO ASIC 首批原型芯片的低温测试与表征结果。在低温环境箱中，几乎所有通道在超过 14 小时的测量期内相对响应变化低于 0.2%，满足 nEXO 的增益稳定性要求，片上脉冲器与外部参考信号结果一致。
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最新进展11月11日 13:00
nEXO 报告 CRYO ASIC 原型芯片低温测试：14 小时内响应变化低于 0.2%，满足增益稳定性要求。报道时间线
沿着报道，了解事件的不同侧面。
11月11日
- arXiv physics.ins-det（探测器）nEXO 实验 CRYO ASIC 电荷读出芯片的低温与液氙性能表征
nEXO 合作组报告了用于液氙 TPC 电荷读出的 CRYO ASIC 首批原型芯片的低温测试与表征结果。在低温环境箱中，几乎所有通道在超过 14 小时的测量期内相对响应变化低于 0.2%，满足 nEXO 的增益稳定性要求，片上脉冲器与外部参考信号结果一致。
本事件热度走势
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